A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z No Author



Find Author:

Yagil, S.
Yagnik, L.
Yahav, E.
Yair, E.
Yakhnis, V. R.
Yamada, H.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamaguchi, K.
Yamaguchi, M.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, H.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yang, S. C.
Yang, S. X.
Yang, Y.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, L.
Yan, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardeni, L. A.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
	IBM Journal of Research and Development 2007	Modeling of risk losses using size-biased data
	IBM Journal of Research and Development 2003	Estimating the efficiency of collaborative problem-solving, with applications to chip design
	IBM Journal of Research and Development 1987	Some aspects of the theory of statistical control schemes
	IBM Journal of Research and Development 1985	On the analysis and design of CUSUM-Shewhart control schemes
Yassur, B.-A.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yates, R.
Yeager, J.
Yee, B.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yelavich, B. M.
Yellin, D. M.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeoh, C.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Yew, P.-C
Ye, M.
Ye, S.
Yglesias, K. P.
Yhap, E. F.
Yocom, P.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yonezawa, M.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Yost, R. A.
Youngs, R.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, G. E.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
Youssef, A.
You, H.
Yozzo, R. E.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yung, C. K.
Yusuf, L.
Yuval, A.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, P. S.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zachman, J. A.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zatti, S.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zeidner, L.
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zeng, L.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhai, S.
Zhang, C.
Zhang, G.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, L.-J.
Zhang, S.
Zhang, T.
Zhang, Y.
Zhao, P.
Zhao, S. W.
Zhao, Y.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, J.
Zhou, M. X.
Zhou, N.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, Q.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Ziegler,Jr., K.
Zien, J.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zilles, S. N.
Zimmermann, V.
Zimmerman, L. L.
Zimmerman, S. M.
Zimmerman, T. G.
Zimowski, M. R.
Zingaretti, D. P.
Zipperer, H.-G.
Ziq, A.
Zitz, J. A.
Ziv, A.
Zloof, M. M.
Zlotek, A.
Zoellin, C. G.
Zollar, Al
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough

A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z No Author