IBM Technical Journals
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
Search/Index
Staff
Contact Us
Related link:
IBM Research
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Yagil, S.
Yagnik, L.
Yahav, E.
Yair, E.
Yakhnis, V. R.
Yamada, H.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamaguchi, K.
Yamaguchi, M.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, H.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yang, S. C.
Yang, S. X.
Yang, Y.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, L.
Yan, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardeni, L. A.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yassur, B.-A.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yates, R.
Yeager, J.
Yee, B.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yelavich, B. M.
Yellin, D. M.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeoh, C.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Yew, P.-C
Ye, M.
Ye, S.
Yglesias, K. P.
Yhap, E. F.
Yocom, P.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
IBM Journal of Research and Development 2000
Magnetic thin films in recording technology
IBM Journal of Research and Development 1990
Magnetic thin films in recording technology
Yonezawa, M.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Yost, R. A.
Youngs, R.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, G. E.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
Youssef, A.
You, H.
Yozzo, R. E.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yung, C. K.
Yusuf, L.
Yuval, A.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, P. S.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zachman, J. A.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zatti, S.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zeidner, L.
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zeng, L.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhai, S.
Zhang, C.
Zhang, G.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, L.-J.
Zhang, S.
Zhang, T.
Zhang, Y.
Zhao, P.
Zhao, S. W.
Zhao, Y.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, J.
Zhou, M. X.
Zhou, N.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, Q.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Ziegler,Jr., K.
Zien, J.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zilles, S. N.
Zimmermann, V.
Zimmerman, L. L.
Zimmerman, S. M.
Zimmerman, T. G.
Zimowski, M. R.
Zingaretti, D. P.
Zipperer, H.-G.
Ziq, A.
Zitz, J. A.
Ziv, A.
Zloof, M. M.
Zlotek, A.
Zoellin, C. G.
Zollar, Al
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact