IBM Technical Journals
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
Search/Index
Staff
Contact Us
Related link:
IBM Research
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Yagil, S.
Yagnik, L.
Yahav, E.
Yair, E.
Yakhnis, V. R.
Yamada, H.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamaguchi, K.
Yamaguchi, M.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, H.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yang, S. C.
Yang, S. X.
Yang, Y.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, L.
Yan, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardeni, L. A.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yassur, B.-A.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yates, R.
Yeager, J.
Yee, B.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yelavich, B. M.
Yellin, D. M.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeoh, C.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Yew, P.-C
Ye, M.
Ye, S.
Yglesias, K. P.
Yhap, E. F.
Yocom, P.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yonezawa, M.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Yost, R. A.
Youngs, R.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, G. E.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
Youssef, A.
You, H.
Yozzo, R. E.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yung, C. K.
Yusuf, L.
Yuval, A.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, P. S.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
IBM Journal of Research and Development 2005
High-speed electrical testing of multichip ceramic modules
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zachman, J. A.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zatti, S.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zeidner, L.
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zeng, L.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhai, S.
Zhang, C.
Zhang, G.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, L.-J.
Zhang, S.
Zhang, T.
Zhang, Y.
Zhao, P.
Zhao, S. W.
Zhao, Y.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, J.
Zhou, M. X.
Zhou, N.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, Q.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Ziegler,Jr., K.
Zien, J.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zilles, S. N.
Zimmermann, V.
Zimmerman, L. L.
Zimmerman, S. M.
Zimmerman, T. G.
Zimowski, M. R.
Zingaretti, D. P.
Zipperer, H.-G.
Ziq, A.
Zitz, J. A.
Ziv, A.
Zloof, M. M.
Zlotek, A.
Zoellin, C. G.
Zollar, Al
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact