IBM Journal of Research and Development
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
·
Current Issue
·
Recent Issues
·
Papers in Progress
· Search/Index
·
Orders
·
Description
·
Patents
·
Recent publications
·
Author's Guide
Staff
Contact Us
Related links:
IBM Research
Browse by Author
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Wade, B. W.
Wagner, D.
Wagner, E. G.
Wagner, K. D.
Wagner, L. F.
Wagner, N. A.
Wagstaff, A. P.
Wahaus, C. W.
Wahi, P. N.
Wahl, F.
Wahl, F. M.
Wahrmund, L. A.
Waicukauski, J. A.
Wainer, J. J.
Wait, C. D.
Wajda, E. S.
Wakefield, S. P.
Wakil, J. A.
Waldorf, D. L.
Waldvogel, M.
Walker, A.
Walker, E. J.
Walker, J. J.
Walker, R. M.
Walker, R. C.
Walkinshaw, M.
Walkowiak, S.
Walkup, R.
Wallace, J. E.
Wallenfelt, B. P.
Waller, R. A.
Wallis, J. R.
Wallraff, G. M.
Walmsley, I. A.
Walsh, J. L.
Walter, J.
Walter, W.
Walther, S. S.
Waltman, R. J.
Walton, C. A.
Walz, M. H.
Wandelt, K.
Wang, C. C.
Wang, C. P.
Wang, D. I. C.
Wang, H.
Wang, H.-H.
Wang, H. H.
Wang, L.
Wang, P.-C.
Wang, P. K. C.
Wang, P. P.
Wang, R.
Wang, W. Y.
Wang, X.
Wang, Y.-Y.
Ward, J. W.
Ward, R. L.
Ward, T. J. C.
Ward, T. J. C.
Ware, M. S.
Ware, M. S.
Warlaumont, J. M.
Warnecke, A. J.
Warne, M.
Warnock, J. D.
Warnock, J. D.
Warren, J. L.
Warren, K. W.
Warren,Jr., H. S.
Warten, R. M.
Washburn, S.
Washburn, W. F.
Washo, B. D.
Wasserman, W. W.
Watanabe, A.
Watanabe, F.
Watanabe, S.
Watanabe, Y.
Watkins, R. V.
Watson, D. P.
Watts, R. O.
Way, E. C.
Wazlowski, M. E.
Webber, D. A.
Webb, A. M.
Webb, B. C.
Webb, C. F.
Webb, D. J.
Webb, R. A.
Webel, T.
Weber, E. V.
Weber, H.
Weber, N. E.
Weber, W.
Wedekind, H. H.
Weed, J. T.
Weekly, R. D.
Weeks, T. W.
Weeks, W. T.
Wegman, M. N.
Weigel, C. W.
Weigel, J. P.
Weiler, B. A.
Weinberger, A.
Weinberger, E. D.
Weiner, J. L.
Weisberg, L. R.
Weiser, G.
Weiser, K.
Weissman, M.
Weiss, S. M.
Weiss, U.
Weitzel, S. D.
Weitzman, E. J.
Wejchert, J.
Welbon, E. H.
Welch, P. D.
Welland, M. E.
Wellman, J.-D.
Wells, J. F.
Wells, W. H.
Wellwood, G. C.
Welsch, H. M.
Welter, F. M.
Weltzien, J. W.
Welz, H.
Wendel, D. F.
Wendel, D. F.
Weng, L.
Wenner, J. W.
Wenzel, R. G.
Wen, S. H.
Werlich, H.
Werner, G. E.
Werner, K.
Wesley, M. A.
Wesson, R. A.
Westerink, P. H.
Westermann, E. F.
Weston, M. W.
West, A. C.
West, C. H.
West, C. C.
West, D. L.
West, M. A.
West, P.
West, P. M.
Wetter, H.
Wetter, T.
Wettig, T.
Whalen, R. M.
Whalen,Jr., R. M.
Wheeler, D.
Wheeler, J. A.
Whitehead, C. H.
Whitehead, D. J. Stigliani,Jr., T. E. Bubb, D. F. Casper, J. H. Chin, S. G. Glassen, J. M. Hoke, V. A. Minassian, J. H. Quick, and C. H.
White, F. R.
White, J. M.
White, J. R.
White, J. W.
White, R. C.
White, R. L.
White, R. M.
White, S. W.
White, T. S.
White, W. H.
White, W. R.
Whitley, L. D.
Wickramasinghe, H. K.
Widlund, O. B.
Widmer, A. X.
Widmer, D.
Widmer, R.
Wiedemeier, G. A.
Wiederhold, G.
Wieder, H.
Wiedman, F. W.
Wiesel, H. Z.
Wiesendanger, R.
Wiesenfeld, J. M.
Wiesmann, D.
Wiesner, J. B.
Wiggin, R. N.
Wilburn, N. P.
Wilcke, W. W.
Wilcke, W. W.
Wilczynski, J. S.
Wild, D.
Wild, U. P.
Wiley, J. P.
Wiley, K. M.
Wile, B.
Wilfinger, R. J.
Wilkins, J. D.
Willebeek-LeMair, M. H.
Willen, D. E.
Willette, E. L.
Wille, U.
Williams, A. R.
Williams, B.
Williams, G. A.
Williams, G. N.
Williams, G. T.
Williams, J. A.
Williams, J. H.
Williams, M. C.
Williams, M. L.
Williams, M. L.
Williams, M. W.
Williams, P. M.
Williams, P. M.
Williams, T. B.
Williams, T. H.
Williams, T. W.
Willmott, D. R.
Willoughby, R. A.
Willson, C. G.
Will, P. M.
Wilson, A. D.
Wilson, C. C.
Wilson, D. O.
Wilson, G. J.
Wilson, J. S.
Wilson, M. N.
Wilson, R. J.
Wilson, T. I.
Wiltshire, T. J.
Winarski, D. J.
Wind, S. J.
Winger, W. D.
Winkelmann, R.
Winkel, T.-M.
Winkler, D.
Winner, D. R.
Winograd, S.
Winters, H. F.
Winter, A.
Winter, B. B.
Winter, L. F.
Winthrop, J. T.
Wise, F. W.
Wise, R.
Wisnieff, R. L.
IBM Journal of Research and Development 2000
Electronic displays for information technology
IBM Journal of Research and Development 1998
Thin-film-transistor process-characterization test structures
IBM Journal of Research and Development 1998
A 10.5-in.-diagonal SXGA active-matrix display
IBM Journal of Research and Development 1992
Functional testing of TFT/LCD arrays
Wisniewski, M. Y. L.
Wisniewski, R.
Wisniewski, R. W.
Wissel, L.
Withers, D. H.
Wittekoek, S.
Wittrock, R. J.
Wittrock, R. J.
Wladawsky, I.
Wnuk, R. C.
Woerkom, H. M. Van
Wojciak, P.
Wolfe, P.
Wolfe, R.
Wolfe, R. H.
Wolfe, R. N.
Wolff,Sr., P. K.
Wolfheimer, A. D.
Wolford, R. R.
Wolfrum, H.
Wolfson, H. J.
Wolf, H.
Wolf, P.
Wolf, S. A.
Wolke, K.
Wollyung, W. D.
Wolter, R. F.
Wolynes, P. G.
Wong, A. K.
Wong, C.-K.
Wong, E.
Wong, H.-S.
Wong, H.-S. P.
Wong, H. S.
Wong, J. P.
Wong, K.
Wong, K. K. H.
Wong, K. Y.
Wong, R. C.
Wong, T. M.
Woodall, J. M.
Woodard, O. C.
Woodcock, J. C. P.
Woodham, D. R.
Woodruff, D. J.
Woods, C. D.
Woods, J. W.
Woodward, J. M.
Wood, C.
Wood, M. A.
Wood, R.
Wood, R. A.
Wooldridge, J. L.
Woolfson, M. M.
Wootters, W. K.
Woo, L.
Worcester, P.
Wordeman, M. R.
Worledge, D. C.
Wottreng, A. H.
Woychik, C. G.
Woytowich, F.
Wrenner, K. R.
Wrenner, W. R.
Wright, G. P.
Wright, R. E.
Wright, S. L.
Wright, S. L.
Wu, A. W.
Wu, C.
Wu, C. W.
Wu, D. M.
Wu, E. Y.
Wu, G.
Wu, K.
Wu, L. L.
Wu, L. L.-H.
Wu, P.
Wu, P. T.
Wu, P. T.
Wu, R. M.
Wu, T. Y.
Wu, W.-W.
Wyler, D. J.
Wyman, L. W.
Wyman, L. W.
Wyma, E. R.
Wyner, A. D.
Wynne, J. J.
Xiang, Z.
Xiao, Gang
Xia, Y.
Xi, H.
Xu, H.
Xu, Y.
Yagnik, L.
Yair, E.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yeager, J.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Ye, S.
Yhap, E. F.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
You, H.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, S.
Zhang, Y.
Zhao, S. W.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zimmermann, V.
Zimmerman, S. M.
Zipperer, H.-G.
Zitz, J. A.
Zoellin, C. G.
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact