IBM Journal of Research and Development
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
·
Current Issue
·
Recent Issues
·
Papers in Progress
· Search/Index
·
Orders
·
Description
·
Patents
·
Recent publications
·
Author's Guide
Staff
Contact Us
Related links:
IBM Research
Browse by Author
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Welz, H.
Wendel, D. F.
Wendel, D. F.
Weng, L.
Wenner, J. W.
Wenzel, R. G.
Wen, S. H.
Werlich, H.
Werner, G. E.
Werner, K.
Wesley, M. A.
Wesson, R. A.
Westerink, P. H.
Westermann, E. F.
Weston, M. W.
West, A. C.
West, C. H.
West, C. C.
West, D. L.
West, M. A.
West, P.
West, P. M.
Wetter, H.
Wetter, T.
Wettig, T.
Whalen, R. M.
Whalen,Jr., R. M.
Wheeler, D.
Wheeler, J. A.
Whitehead, C. H.
Whitehead, D. J. Stigliani,Jr., T. E. Bubb, D. F. Casper, J. H. Chin, S. G. Glassen, J. M. Hoke, V. A. Minassian, J. H. Quick, and C. H.
White, F. R.
White, J. M.
White, J. R.
White, J. W.
White, R. C.
White, R. L.
White, R. M.
White, S. W.
White, T. S.
White, W. H.
White, W. R.
Whitley, L. D.
Wickramasinghe, H. K.
Widlund, O. B.
Widmer, A. X.
Widmer, D.
Widmer, R.
Wiedemeier, G. A.
Wiederhold, G.
Wieder, H.
Wiedman, F. W.
Wiesel, H. Z.
Wiesendanger, R.
Wiesenfeld, J. M.
Wiesmann, D.
Wiesner, J. B.
Wiggin, R. N.
Wilburn, N. P.
Wilcke, W. W.
Wilcke, W. W.
Wilczynski, J. S.
Wild, D.
Wild, U. P.
Wiley, J. P.
Wiley, K. M.
Wile, B.
Wilfinger, R. J.
Wilkins, J. D.
Willebeek-LeMair, M. H.
Willen, D. E.
Willette, E. L.
Wille, U.
Williams, A. R.
Williams, B.
Williams, G. A.
Williams, G. N.
Williams, G. T.
Williams, J. A.
Williams, J. H.
Williams, M. C.
Williams, M. L.
Williams, M. L.
Williams, M. W.
Williams, P. M.
Williams, P. M.
Williams, T. B.
Williams, T. H.
Williams, T. W.
Willmott, D. R.
Willoughby, R. A.
Willson, C. G.
Will, P. M.
Wilson, A. D.
Wilson, C. C.
Wilson, D. O.
Wilson, G. J.
Wilson, J. S.
Wilson, M. N.
Wilson, R. J.
IBM Journal of Research and Development 1995
The use of STM to study metal film epitaxy
IBM Journal of Research and Development 1986
Construction of a UHV scanning tunneling microscope
Wilson, T. I.
Wiltshire, T. J.
Winarski, D. J.
Wind, S. J.
Winger, W. D.
Winkelmann, R.
Winkel, T.-M.
Winkler, D.
Winner, D. R.
Winograd, S.
Winters, H. F.
Winter, A.
Winter, B. B.
Winter, L. F.
Winthrop, J. T.
Wise, F. W.
Wise, R.
Wisnieff, R. L.
Wisniewski, M. Y. L.
Wisniewski, R.
Wisniewski, R. W.
Wissel, L.
Withers, D. H.
Wittekoek, S.
Wittrock, R. J.
Wittrock, R. J.
Wladawsky, I.
Wnuk, R. C.
Woerkom, H. M. Van
Wojciak, P.
Wolfe, P.
Wolfe, R.
Wolfe, R. H.
Wolfe, R. N.
Wolff,Sr., P. K.
Wolfheimer, A. D.
Wolford, R. R.
Wolfrum, H.
Wolfson, H. J.
Wolf, H.
Wolf, P.
Wolf, S. A.
Wolke, K.
Wollyung, W. D.
Wolter, R. F.
Wolynes, P. G.
Wong, A. K.
Wong, C.-K.
Wong, E.
Wong, H.-S.
Wong, H.-S. P.
Wong, H. S.
Wong, J. P.
Wong, K.
Wong, K. K. H.
Wong, K. Y.
Wong, R. C.
Wong, T. M.
Woodall, J. M.
Woodard, O. C.
Woodcock, J. C. P.
Woodham, D. R.
Woodruff, D. J.
Woods, C. D.
Woods, J. W.
Woodward, J. M.
Wood, C.
Wood, M. A.
Wood, R.
Wood, R. A.
Wooldridge, J. L.
Woolfson, M. M.
Wootters, W. K.
Woo, L.
Worcester, P.
Wordeman, M. R.
Worledge, D. C.
Wottreng, A. H.
Woychik, C. G.
Woytowich, F.
Wrenner, K. R.
Wrenner, W. R.
Wright, G. P.
Wright, R. E.
Wright, S. L.
Wright, S. L.
Wu, A. W.
Wu, C.
Wu, C. W.
Wu, D. M.
Wu, E. Y.
Wu, G.
Wu, K.
Wu, L. L.
Wu, L. L.-H.
Wu, P.
Wu, P. T.
Wu, P. T.
Wu, R. M.
Wu, T. Y.
Wu, W.-W.
Wyler, D. J.
Wyman, L. W.
Wyman, L. W.
Wyma, E. R.
Wyner, A. D.
Wynne, J. J.
Xiang, Z.
Xiao, Gang
Xia, Y.
Xi, H.
Xu, H.
Xu, Y.
Yagnik, L.
Yair, E.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yeager, J.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Ye, S.
Yhap, E. F.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
You, H.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, S.
Zhang, Y.
Zhao, S. W.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zimmermann, V.
Zimmerman, S. M.
Zipperer, H.-G.
Zitz, J. A.
Zoellin, C. G.
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact