IBM Journal of Research and Development
Home
Products & services
Support & downloads
My account
Select a country
Journals Home
Systems Journal
Journal of Research
and Development
·
Current Issue
·
Recent Issues
·
Papers in Progress
· Search/Index
·
Orders
·
Description
·
Patents
·
Recent publications
·
Author's Guide
Staff
Contact Us
Related links:
IBM Research
Browse by Author
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
No Author
Find Author:
Welz, H.
Wendel, D. F.
Wendel, D. F.
Weng, L.
Wenner, J. W.
Wenzel, R. G.
Wen, S. H.
Werlich, H.
Werner, G. E.
Werner, K.
Wesley, M. A.
Wesson, R. A.
Westerink, P. H.
Westermann, E. F.
Weston, M. W.
West, A. C.
West, C. H.
West, C. C.
West, D. L.
West, M. A.
West, P.
West, P. M.
Wetter, H.
Wetter, T.
Wettig, T.
Whalen, R. M.
Whalen,Jr., R. M.
Wheeler, D.
Wheeler, J. A.
Whitehead, C. H.
Whitehead, D. J. Stigliani,Jr., T. E. Bubb, D. F. Casper, J. H. Chin, S. G. Glassen, J. M. Hoke, V. A. Minassian, J. H. Quick, and C. H.
White, F. R.
White, J. M.
White, J. R.
White, J. W.
White, R. C.
White, R. L.
White, R. M.
White, S. W.
White, T. S.
White, W. H.
White, W. R.
Whitley, L. D.
Wickramasinghe, H. K.
Widlund, O. B.
Widmer, A. X.
Widmer, D.
Widmer, R.
Wiedemeier, G. A.
Wiederhold, G.
Wieder, H.
Wiedman, F. W.
Wiesel, H. Z.
Wiesendanger, R.
Wiesenfeld, J. M.
Wiesmann, D.
Wiesner, J. B.
Wiggin, R. N.
Wilburn, N. P.
Wilcke, W. W.
Wilcke, W. W.
Wilczynski, J. S.
Wild, D.
Wild, U. P.
Wiley, J. P.
Wiley, K. M.
Wile, B.
Wilfinger, R. J.
Wilkins, J. D.
Willebeek-LeMair, M. H.
Willen, D. E.
Willette, E. L.
Wille, U.
Williams, A. R.
Williams, B.
Williams, G. A.
Williams, G. N.
Williams, G. T.
Williams, J. A.
Williams, J. H.
Williams, M. C.
Williams, M. L.
Williams, M. L.
Williams, M. W.
Williams, P. M.
Williams, P. M.
Williams, T. B.
Williams, T. H.
Williams, T. W.
Willmott, D. R.
Willoughby, R. A.
Willson, C. G.
Will, P. M.
Wilson, A. D.
Wilson, C. C.
Wilson, D. O.
Wilson, G. J.
Wilson, J. S.
Wilson, M. N.
Wilson, R. J.
Wilson, T. I.
Wiltshire, T. J.
Winarski, D. J.
Wind, S. J.
Winger, W. D.
Winkelmann, R.
Winkel, T.-M.
Winkler, D.
Winner, D. R.
Winograd, S.
Winters, H. F.
Winter, A.
Winter, B. B.
Winter, L. F.
Winthrop, J. T.
Wise, F. W.
Wise, R.
Wisnieff, R. L.
Wisniewski, M. Y. L.
Wisniewski, R.
Wisniewski, R. W.
Wissel, L.
Withers, D. H.
Wittekoek, S.
Wittrock, R. J.
Wittrock, R. J.
Wladawsky, I.
Wnuk, R. C.
Woerkom, H. M. Van
Wojciak, P.
Wolfe, P.
Wolfe, R.
Wolfe, R. H.
Wolfe, R. N.
Wolff,Sr., P. K.
Wolfheimer, A. D.
Wolford, R. R.
Wolfrum, H.
Wolfson, H. J.
Wolf, H.
Wolf, P.
Wolf, S. A.
Wolke, K.
Wollyung, W. D.
Wolter, R. F.
Wolynes, P. G.
Wong, A. K.
Wong, C.-K.
Wong, E.
Wong, H.-S.
Wong, H.-S. P.
Wong, H. S.
Wong, J. P.
Wong, K.
Wong, K. K. H.
Wong, K. Y.
Wong, R. C.
Wong, T. M.
Woodall, J. M.
Woodard, O. C.
Woodcock, J. C. P.
Woodham, D. R.
Woodruff, D. J.
Woods, C. D.
Woods, J. W.
Woodward, J. M.
Wood, C.
Wood, M. A.
Wood, R.
Wood, R. A.
Wooldridge, J. L.
Woolfson, M. M.
Wootters, W. K.
Woo, L.
Worcester, P.
Wordeman, M. R.
Worledge, D. C.
IBM Journal of Research and Development 2006
Single-domain model for toggle MRAM
IBM Journal of Research and Development 2006
Rapid-turnaround characterization methods for MRAM development
IBM Journal of Research and Development 2006
Two-level BEOL processing for rapid iteration in MRAM development
Wottreng, A. H.
Woychik, C. G.
Woytowich, F.
Wrenner, K. R.
Wrenner, W. R.
Wright, G. P.
Wright, R. E.
Wright, S. L.
Wright, S. L.
Wu, A. W.
Wu, C.
Wu, C. W.
Wu, D. M.
Wu, E. Y.
Wu, G.
Wu, K.
Wu, L. L.
Wu, L. L.-H.
Wu, P.
Wu, P. T.
Wu, P. T.
Wu, R. M.
Wu, T. Y.
Wu, W.-W.
Wyler, D. J.
Wyman, L. W.
Wyman, L. W.
Wyma, E. R.
Wyner, A. D.
Wynne, J. J.
Xiang, Z.
Xiao, Gang
Xia, Y.
Xi, H.
Xu, H.
Xu, Y.
Yagnik, L.
Yair, E.
Yamada, K.
Yamaguchi, A.
Yamamoto, M.
Yamamura, S.
Yamanaka, H.
Yamashita, A.
Yanagisawa, H.
Yang, D. Y.
Yang, J.
Yang, K. H.
Yannoni, C. S.
Yano, N.
Yan, W.
Yao, Y. L.
Yardy, R.
Yarmchuk, E. J.
Yarnell, J. L.
Yarrington, J. C.
Yashchin, E.
Yasue, T.
Yasuoka, K.
Yeager, J.
Yee, K. F.
Yee, P. L.
Yeh, J.
Yeh, P.
Yeh, P. C.
Yeh, T.-H.
Yen, A. C.
Yen, E. T.
Yeo, B.-L.
Yeo, H.
Yetzer, R. H.
Yeung, M. M.
Ye, S.
Yhap, E. F.
Yocom, P. B.
Yoda, K.
Yoffa, E. J.
Yogi, T.
Yong, S.
Yoshida, R.
Yoshimine, M.
Young, A. M.
Young, D. R.
Young, F. W.
Young, H. C.
Young, K. F.
Young, S. P.
Young, W. R.
Younus, M. I.
Yourke, H.
You, H.
Yu-Jahnes, Lock See
Yudenfriend, H. M.
Yudenfriend, H. M.
Yudico, R.
Yue, P. C.
Yu, H.
Yu, H.-N.
Yu, M. L.
Yu, X. L.
Yu, Y.-Y.
Yvon, K.
Zabel, T. H.
Zable, J.
Zable, J. L.
Zafiropulo, P.
Zaki, O. A.
Zaks, A.
Zamdmer, N.
Zamora, A.
Zapata, I. R.
Zappe, H. H.
Zarkesh-Ha, P.
Zaromb, S.
Zasio, J. J.
Zecca, V.
Zee, M.
Zeggert, W. P.
Zeghbroeck, B. J. Van
Zelenski, R. E.
Zemon, S.
Zenewicz, P. P.
Zenzo, S. Di
Zhai, B.
Zhang, J.
Zhang, L.
Zhang, S.
Zhang, Y.
Zhao, S. W.
Zheng, G.
Zhestkov, Y.
Zhou, R.
Zhou, T.
Zhu, J.
Zhu, W.
Ziegler, J. F.
Ziegler, R. A.
Zierak, M. J.
Zier, S. J.
Ziesler, C. H.
Zilles, C.
Zilles, G.
Zimmermann, V.
Zimmerman, S. M.
Zipperer, H.-G.
Zitz, J. A.
Zoellin, C. G.
Zoric, B. A.
Zubair, M.
Zuchowski, P. S.
Zucker, J.
Zukowski, D. J.
Zuliani, P.
Zumbrunnen, M. L.
Zutic, I.
Zweig, H. J.
Zwick, T.
Zyuban, V.
(No Author)
,
, B. M. Kreuz
, C. Berrospi
, C. Supatgiat
, David E. Seeger
, G. M. Swirszcz
, K. Theurich
, M. T. Vaden
, S. R. Carlough
About IBM
|
Privacy
|
Terms of use
|
Contact